眾律國際法律事務所

專利侵害鑑定原則 

眾律國際法律事務所 專利程序助理許美盈

2012-07-05

專利侵害鑑定分為兩階段，分別為「解釋申請專利範圍[1]」與「比對解釋後之申請專利範圍與待鑑定對象(物或方法)」。

而全要件原則、文義讀取、均等論、逆均等論與禁反言，皆是在進行專利侵害之鑑定時，所不可或缺的重要相關理論。

1. 全要件原則(All-Elements Rule)：係指請求項中每一技術特徵均對應表現在待鑑定對象中，包括文義的表現及均等的表現。

2. 文義讀取：就請求向之文字意義作解釋，以了解期所指稱之技術特徵是否具體表現在被告之客體中。

3. 均等論(Doctrine of Equivalents)：學理上，均等論係指系爭產品或方法與權利人已取得之專利，在目的功能、技術手段、達成效果上皆實質相同。

例如：申請專利範圍之構成要件為A+B+C，被控侵權之物品以D置換C(替代性實施方法)，成為A+B+D，若D與C實質上之功能相同，亦可達成實質上相同之效果。

4. 逆均等論(Reverse Doctrine of Equivalents)：待鑑定對象已符合「文義讀取」，但實質上未利用發明(或新型)說明所揭示之技術手段時，適用此理論。

5. 禁反言(File Wrapper Estoppel)：相當於我國民法總則規定之誠實信用原則[2]，係指專利權人於申請過程之階段或提出之文件上，以明白表示放棄或限縮之部分，期嗣後於取得專利權後，或專利侵權訴訟中，不得再行主張已放棄或限縮之權利。

一開始訴訟案件進來的時候，會先對專利的申請範圍去做解釋，接下來才是以被控侵權的物或方法與專利的申請範圍做比對。首先會以全要件原則去比對是否符合文義讀取，如果是的話則適用逆均等論，否的話則適用均等論。如果符合「文義讀取」，便會判斷是否適用均等論，是的話則再進一步判斷是否適用禁反言或適用先前技術阻卻，否的話則落入專利權(均等)範圍，是的話則未落入專利權範圍。

參考資料

1. 專利侵害鑑定實務，林志信 專利師

2. 九十九年度第二次智慧財產實務案例評析座談會議紀錄(主題：均等論於我國專利侵害訴訟中之運用)

3. 專利侵害鑑定要點

[1] 解釋申請專利範圍之證據分為外部證據與內部證據。

[2] 民法第148條規定：

「權利之行使，不得違反公共利益，或以損害他人為主要目的。

  行使權利，履行義務，應依誠實及信用方法。」